1. 高計數率。由于收集陽的電容低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升時間，因而特別適合在高計數率的情況下工作。

 

2. 高能量分辨率。SDD的陽面積小于通常硅PIN器件，由于電容的減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。

 

3. 可在常溫下工作。SDD的電容和漏電流要比一般探測器小兩個數量級以上，通常把場效應管（FET）和Peltier效應器件都整合到一起，這樣儀器在常溫下就能滿足SDD的制冷需求，特別適用于便攜式設備的現場使用。

 

根據國家地質實驗測試中心的報告，SDD探測器從1962年以Si探測器問世以來，Si-PIN、高純及四葉花瓣型Ge探測器、Si漂移、SDD等不同性能的探測器， SDD探測器在計算數與制造工藝的穩定性方面取得突破，從而替代復雜的波長色散X射線光譜儀的Si-pIN探測器。

 

光譜測量用探測器應用范圍（可分析周期表中所有金屬元素和部分非金屬元素）

1．鋼鐵及其合金的分析：包括碳素鋼、鑄鐵、合金鋼、高純鐵、鐵合金等。

2．有色金屬及其合金的分析：包括有色金屬及其合金、稀有金屬及其合金、貴金屬、稀土元素及其化合物。

3．水質樣品的分析：包括飲用水、地表水、礦泉水、高純水及廢水等。

4．環境樣品的分析：包括固體廢物、土壤、粉煤灰、大氣飄塵等。

5．地礦樣品的分析：包括地質樣品、礦石及礦物等。

6．動植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動物組織、生物化學樣品等。

7．核工業產物的分析：包括核燃料、核材料等。

8．食品及飲料的分析：包括食品、飲料等。

9．化學化工產物的分析：包括化學試劑化工產物無機材料化妝品油類等。